Модификации:
B – светлое
поле в отраженном свете, поляризация.
BD– светлое / темное поле в отраженном свете, поляризация.
DIC– светлое / темное поле в отраженном сете, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст.
BD– светлое / темное поле в отраженном свете, поляризация.
DIC– светлое / темное поле в отраженном сете, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст.
Инвертированный
микроскоп
отраженного света для металлографических исследований образцов металлов и
сплавов, минералов с применением различных методов исследования и
контрастирования.
Оптическая
система UIS скорректирована «на бесконечность». Планахроматические объективы.
Пятипозиционное револьверное устройство.
Мощная
система освещения Epi-Kohler с галогеновой лампой, регулируемой полевой и
апертурной диафрагмами и спотами для фильтров.
Бинокулярная
насадка. Фотопорт на боковой стенке корпуса. Микроскоп может быть оснащен
блоком документирования (камера с адаптером) и блоком анализа изображений.
В базовой
комплектации блок анализа изображения включает Модуль «SIAMS PhotoLab», Модуль
«Тематические электронные атласы для металлографического анализа методом
сравнения» (Атл) и Методику «Величина зерна в сталях и сплавах ГОСТ 5639».
Возможно дополнение блока анализа другими программными модулями и методиками.
Комментариев нет:
Отправить комментарий